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    產(chǎn)品中心您現(xiàn)在的位置:首頁 > 產(chǎn)品展示 > 實驗室儀器 > 電子天平 > PRACTUM64-1CNPractum® 電子分析天平

    Practum® 電子分析天平

    簡要描述:

    Practum&#174; 電子分析天平 確保精度和準確度,讓您物超所值。它擁有賽多利斯品質(zhì)與德國開發(fā)并設(shè)計的技術(shù),確保可實現(xiàn)穩(wěn)定的讀數(shù)和出色的重復(fù)性。

    更新時間:2024-01-24 廠商性質(zhì):代理商
    訪問量:690 起訂量:>1

    Practum® 電子分析天平

    確保精度和準確度,讓您物超所值。請不要錯過新型的Practum®天平!它擁有賽多利斯品質(zhì)與德國開發(fā)并設(shè)計的技術(shù),確保可實現(xiàn)穩(wěn)定的讀數(shù)和出色的重復(fù)性。Practum®具備一切您所需要的標準應(yīng)用程序。

    • 基于賽多利斯品質(zhì)與德國設(shè)計的技術(shù)確保精確、穩(wěn)定的讀數(shù)和出色的重復(fù)性
    • 機械過載保護提供高可靠性與耐用性
    • 用于防止安裝設(shè)置意外修改的監(jiān)管鎖
    • 符合人體工程學(xué)且堅固的防風(fēng)罩使稱量更加輕松
    • 通過賽多利斯標準實驗室打印機YDP40實現(xiàn)即插即用技術(shù)

    包裝清單

    分析天平配有通用的電源適配器,使用中的防塵罩,應(yīng)用指南,防塵罩

     

    Practum® 電子分析天平

    Applications

    • 應(yīng)用領(lǐng)域

      • 教育
      • 其它
    • 標準實驗室應(yīng)用

      • 稱重
      • 密度測定
      • 百分數(shù)
      • 檢重
      • 峰值保持
      • 計數(shù)
      • 在不穩(wěn)定條件下稱重

    Calibration

    • 校準歷史

    Compliance Information

    • 法規(guī)要求

    • 符合GLP/GMP要求的打印輸出

    • 計量認證

      CMC型式批準證書(中國)

    Connections (Data)

    • 數(shù)據(jù)傳輸

      直接傳輸至Windows®應(yīng)用程序

    • 數(shù)據(jù)接口

      Mini USB

    Connections (Physical)

    • 連接

      • PC-direct data transfer
      • Plug&Play to Sartorius printer

    Dimensions

    • 尺寸(寬x長x高)

      218 × 360 × 320 mm

    • 稱盤直徑

      ? 90 mm

    • 稱量室高度

      209 mm

    Features

    • 下部稱量

    • 典型穩(wěn)定時間

      2 s

    • 可讀性

      0.1 mg

    • 密碼保護

    • 顯示器

      彩色觸摸屏

    • 機身保護

      Glass parts of the draft shield are coated to reduce electrostatic influences, In-use cover, Dust cover for balances with draft shield

    • 校準

      外部砝碼

    • 水平調(diào)整

      操作手冊

    • 篡改保護

      監(jiān)管鎖

    • 語言

      漢語、英語、法語、德語、意大利語、日本語、波蘭語、葡萄牙語、俄語、西班牙語、匈牙利語、土耳其語

    • 重復(fù)性

      0.1 mg

    • 防盜鎖裝置

      肯辛頓鎖,可連接防盜鎖鏈

    Operating Conditions

    • 大稱重量

      120 g

    Power Requirements

    • 線電壓

      100 – 240 V, 50 – 60 Hz

    Product Information

    • 天平類型

      電子分析天平

     

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